公告概要：
“纳米离子探针及其配件”项目（项目编号：********查看详情） 组织评标工作已经结束，现将评标结果公示如下：
一、项目信息
项目编号：********查看详情
项目名称：纳米离子探针及其配件
项目联系人：杨老师
二、采购单位信息
采购单位名称：中国地质大学（武汉）
采购单位地址：湖北省武汉市洪山区鲁磨路388号中国地质大学（武汉）
三、成交信息
招标文件编号：********查看详情
本项目招标公告日期：
成交日期：2018年09月26日
总成交金额：3050.0 万元（人民币）
成交供应商名称、地址及成交金额：
成交供应商：湖北方圆环保科技有限公司
联系地址：武汉市东湖开发区光谷大道以西、交通技校以南丽岛漫城第20幢2单元8层02号
成交金额：人民币3050万元
本项目代理费总金额：11.12 万元（人民币）
本项目代理费收费标准：
参照国家计划委员会《关于印发《招标代理服务收费管理暂行办法》的通知》（计价格[2002]1980号文件），以成交的价格为基数，按货物招标类收费标准的80%收取招标代理服务费。本项目谈判过程中，为达成谈判目的，经谈判，招标代理服务费减免5万元。
谈判小组、询价小组成员名单及单一来源采购人员名单：
杨浩（采购人代表） 王春阳 单华生（自行推荐） 胡超涌（自行推荐） 陈中强（自行推荐） 黄柳琴（自行推荐） 黄俊华（自行推荐）
四、项目用途、简要技术要求及合同履行日期：
采购法国CAMECA公司NanoSIMS 50L型二次离子探针1套及其配件并安装到位，采购要求如下：
（一）技术要求 （*条款为重要技术要求）：
1. 工作条件：
1.1环境温度：～18-23 ℃（±0.5°C恒温）；
1.2相对湿度：30%～75%；
1.3电源：230V ±5%，满足仪器最大功率11kW；
1.4运行持久性：连续使用。
2. 设备用途：
2.1 纳米级空间分辨原位微区测试固体样品元素含量和同位素组成。
3. 技术规格：
3.1一次离子系统
*3.1.1同时具备正离子和负离子源，两者之间切换不超过30分钟；
3.1.2 正离子源:
3.1.2.1样品表面上离子束斑尺寸可变范围5um到50nm；
3.1.2.2 一次束流Ip连续可调节范围：0.1pA到20nA；
3.1.2.3 一次束流的Ip为 2 pA时，离子束斑直径￡ 100 nm；
3.1.2.4 一次束流离子束斑直径 ≥ 0.5um时，离子流密度≥100 mA/cm2；
3.1.2.5 一次束流离子流的稳定性（10分钟）: ￡ 1%；
3.1.2.6 一次流束斑不超过3um情况下束流强度最大可以达到10nA以上。
3.1.3 负离子源:
3.1.3.1样品表面束斑尺寸可变范围5um到50nm；
3.1.3.2 一次束流Ip连续可调节范围：0.1pA到20nA；
3.1.3.3一次束流的Ip为 2 pA时离子束斑￡100 nm；
3.1.3.4一次束流离子束斑= 100nm时，离子流强度= 2pA；
3.1.3.5 一次束流离子束斑直径≥ 0.5um时，离子束流密度≥ 100 mA/cm2；
3.1.3.6一次束流离子流的稳定性（10分钟）：￡1%；
3.1.4 一次流强度测定背景噪声￡2 ×10-14 A （5秒积分）；
3.1.5 一次离子光路配备不少于5种不同规格的狭缝；
3.1.6固定样品台，一次离子流最大可扫描范围200 um × 200 um；
*3.1.7 配备防止绝缘样品电荷累积装置；
*3.1.8 配备可于分析时同时获取样品分析区域离子图像及二次电子图像装置；
3.2储存室及样品室
3.2.1配备可放置不少于8个样品架的样品储存室；
3.2.2储存室带有隔离阀，可在样品更换、仪器检修等情况下有效维持样品室的真空；
3.2.3 储存室真空可以达到6.7×10-9mbar；
3.2.4带X-Y-Z三轴均可移动的样品台；
3.2.5样品台移动距离： X轴方向70mm；Y轴40mm；Z轴1mm；
3.2.6样品台移动步幅： < 1um；
3.2.7 样品分析室真空在一次流工作时可以达到6.7 × 10-10 mbar；
3.2.8可容纳样品最大尺寸：直径为54mm，厚度为12 mm；
3.2.9最大样品视场0.7 mm；*中国 采招网（bidcenter.com.cn）
3.2.10 配备快速样品装载系统，可容纳最大直径54mm的样品；
3.2.11快速样品装载系统真空可达1.3× 10-7mbar；
3.2.13样品台复位精度： <5um 。
3.3 二次离子光学系统，双聚焦磁质谱仪
3.3.1磁体分析半径: 145至 680 mm可变, 计算机控制；
3.3.2可同时测量的最大元素与最小元素的质量比即Mmax/Mmin可达22；
3.3.3M/？M=6000高分辨本领下的传输率≥55%；
3.3.4 M/？M=9000高分辨本领下的传输率≥25%；
3.3.5在M 28和M56间峰切换条件下五分钟内质谱稳定性？M /M￡ 15ppm；
3.3.6 配备二次离子动态传输系统，可同时测量的样品分析区域≥ 50 um×50 um ；
3.3.7 从分析中心到边缘的传输率差异不超过10%；
3.3.8静态条件下十分钟内质谱稳定性？M /M ￡ 10 ppm；
3.3.9 配备能量过滤装置；
3.3.10配备NMR和Hall probe的 磁场稳定装置；
*3.1.11 配备可用于H/D比值测量的磁场稳定系统。
3.4 二次离子检测系统
*3.4.1配备六个计算机控制的可移动的电子倍增器及一个固定位置的电子倍增器；
*3.4.2 配备六个计算机控制的可移动的法拉第杯；
3.4.3检测器移动20mm后的复位重复性精度￡5um；
3.4.4检测器移动步幅￡1.2um；
3.4.5 法拉第杯噪声5 s 积分时间￡5 × 10-16 A；
3.4.6 二次离子提取电压5kV-10kV之间连续可调；
3.4.7 二次离子提取电压调节步幅为2.5V；
3.4.8电子倍增器背景￡0.01 count/秒；
3.4.9 法拉第杯和电子倍增器可以由电脑控制自动切换；
3.4.10 电子倍增器为接收器，同一4× 4um分析区， 10次测量30Si/28Si及29Si/28Si比，在30Si泊松分布￡ 0.7 permil下测量重现性（1sigmaRSD）￡ 1.25 permil，（std-err）￡ 0.40 permil；
3.4.11电子倍增器接收，同一样品靶12次在5个不同样品孔位测量30Si/28Si及29Si/28Si比，在30Si泊松分布￡ 0.7 permil下测量外部重现性（1sigmaRSD）￡ 1.65 permil，（std-err）￡ 0.48permil；
3.4.12法拉第接收，30Si计数≥2E6 cps，110秒积分时间，同一样品靶12次在5个不同样品孔位测量30Si/28Si及29Si/28Si比，测量外部重现性（1sigmaRSD）￡ 0.8 0permil，（std-err）￡ 0.23permil；
3.4.13法拉第接收，18O计数≥2E6 cps，160秒积分时间，8毫米区域内16次在不同的10× 10um分析区测量18O/16O比，测量外部重现性（1sigmaRSD）￡ 1. 0permil，（std-err）￡ 0.25 permil。
3.5 真空系统
3.5.1样品室离子泵抽速≥300 l/s；
3.5.2质量分析器离子泵抽速≥300 l/s；
3.5.3储存室离子泵抽速≥120 l/s；
3.5.4检测系统分子涡轮泵抽速≥550 l/s；
3.5.5一次离子源分子分子涡轮泵抽速≥80 l/s；
3.5.6 load lock分子涡轮泵抽速80 l/s；
3.5.7检测器端真空￡ 2.7× 10-8 mbar；
3.5.8 样品室配备Ti泵；
3.5.9 真空系统故障时能自动保护，避免正常运行的各种泵损坏。
3.6数字控制电路与数据系统
3.6.1 配备与设备匹配的预装软件的专用计算机（LCD屏幕）及其软件系统；配备不少于8GB的内存、及不少于500G容量的硬盘；
3.6.2配备用于数据采集、处理和仪器控制的多任务软件；
*3.6.3配备双控制台（其中之一可在独立于仪器的操作间对仪器进行操作）；
*3.6.4 配备带加密狗的WinImage 软件一套，可离线处理数据。
3.7 配套设备要求
*3.7.1循环水；
*3.7.2 无油空气压缩机；
*3.7.3 UPS 20KVA以上；
3.7.4 高纯氮气钢瓶。
3.7.5 镀膜仪真空系统：样品台：可变速旋转，高度可调，靶面至样品台距离可调范围为0-120mm或更大，转速为8-20 rpm；另配≥φ60 mm可倾斜旋转样品台；蒸碳模式：可镀制高质量碳膜，需具有脉冲闪蒸和斜坡碳蒸发两种模式；
3.7.6 切割机 工作功率: 1/8 HP（92瓦）直流马达，最大切割直径: 40毫米；
3.7.7 抛光机 完成从粗磨至精抛的样品制备过程，磨盘直径：250mm或300mm，样品定量范围30um-5000um，耗材2套；
3.7.8 干燥柜。
4.提供仪器运行1年所需易损配件。
五、成交标的名称、规格型号、数量、单价、服务要求：
成交标的：法国CAMECA公司NanoSIMS50L型二次离子探针1套及其配件
服务要求：质保期1年
六、其它补充事宜
